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“手持式四探针方阻测试仪”参数说明
| 是否有现货： | 是 | 品牌： | rooko |
| 加工定制： | 是 | 类型： | 数字式电阻 |
| 种类： | 数显电阻表 | 测量范围： | 20-200（MΩ） |
| 电源： | 220 | 测试电压： | 110 |
| 精度： | 0.001 | 重复误差： | 0.1 |
| 环境温度： | 0-40 | 相对湿度： | 1 |
| 校准周期： | 6 | 重量： | 10 |
| 尺寸： | 20 | 型号： | FT-391 |
| 规格： | 1 | 商标： | 1 |
| 包装： | 1 | 产量： | 77764 |
“手持式四探针方阻测试仪”详细介绍
FT-391系列手持式四探针方阻测试仪技术参数资料
参照硅片电阻率测概述量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》，采集高精密集成电路恒流源系统，提供便捷的操作模式，便携式外形结构，可充电式电源系统，中英文语言版本. 一、 功能介绍：便携式外形结构更加适用于车间生产、品管抽检，外出携带测量等要求快速便捷测量的场所；也适用于中小型半导体材料生产企业.具有高性价比优势.液晶显示，显示方阻、电阻率、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度，样品厚度单位从米到纳米均可输入，自动测量、质量轻便，操作简便；三、适用范围：广泛用于：覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜，抗静电材料， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等.
| 规格型号 | FT-391A | FT-391B | FT-391C |
| 1.方块电阻范围 | 10～2.00×102Ω/□ | 10～2.00×103Ω/□ | 10～2.00×104Ω/□ |
| 2.电阻率范围 | 1～2×103Ω-cm | 1～2×104Ω-cm | 1～2×105Ω-cm |
| 3.分辨率 | 0.01Ω | 0.01Ω | 0.01Ω |
| 4.显示读数 | 液晶显示：电阻率、方阻、单位换算、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 | ||
| 5.测试方式 | 单电测量 | ||
| 6.工作电源 | 5V,1000mA | ||
参照硅片电阻率测概述量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》，采集高精密集成电路恒流源系统，提供便捷的操作模式，便携式外形结构，可充电式电源系统，中英文语言版本. 一、 功能介绍：便携式外形结构更加适用于车间生产、品管抽检，外出携带测量等要求快速便捷测量的场所；也适用于中小型半导体材料生产企业.具有高性价比优势.液晶显示，显示方阻、电阻率、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度，样品厚度单位从米到纳米均可输入，自动测量、质量轻便，操作简便；三、适用范围：广泛用于：覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜，抗静电材料， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等.